檢測(cè)點(diǎn)位布設(shè)原則：當(dāng)源套安裝在分析儀的機(jī)殼或防護(hù)罩內(nèi)時(shí)，測(cè)量距源套外表面125px的任何位置；人體可能到達(dá)的距閉束型分析儀一切外表面（包括高壓電源、分析儀外殼等）125px 的位置；距敞束型分析儀的防護(hù)罩、遮光器外表面 125px 的任何位置。

X射線衍射儀、X射線熒光分析儀

《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》（GBZ115-2002）

AT1117M主機(jī)配BDKG-11高精度γ探頭：

探頭類型：NaI(Tl)Φ63*63mm

能量響應(yīng)：50 keV-3MeV

劑量率范圍：0.01 - 100μSv/h

 劑量范圍：0.01μSv–10mSv

 AT1123便攜式連續(xù)/短期/脈沖輻射檢測(cè)儀：

可測(cè)量寬能量范圍X、γ的周圍劑量當(dāng)量率，以及X、γ的連續(xù)輻射、短期輻射、脈沖輻射。

量程：50 nSv/h—10 Sv/h

能量響應(yīng)：15 keV - 10 MeV