森馥科技出席2016国际微波会议并展示创新产品
Date:2017-7-27 14:39:54 Source:
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森馥科技于2016年6月6日至8日出席2016年国际微波毫米波技术会议(ICMMT2016)暨2016年微波毫米波科技成果及产品展(MWIE2016)。在展会现场,森馥科技展出自主研发的电磁辐射检测仪器:SEM-600电磁辐射分析仪(专利类型:实用新型;专利号:ZL201620252677.9)、OS系列电磁环境在线监测系统(专利类型:实用新型;专利号:ZL201420076472.0)、OS-5铌酸锂光电场强测量系统(专利类型:实用新型;专利号:ZL201620054768.1)等产品,并与众多国内外知名的厂商共同研究与探讨前沿的微波射频类产品与技术。

森馥科技展会现场

展会现场咨询

森馥科技一直关注着中国微波射频类的前沿技术发展,并积极与各高校及科研院所开展合作,研发属于我们中国市场的微波射频类产品。在三天的展会中,很多观众通过参观和交流、操作,了解了森馥科技的产品,并体验到森馥科技的高品质产品、服务以及理念。